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原子荧光光谱法原理简要分析

原子荧光光谱分析法是20世纪六十年代中期以后发展起来的一种新的痕量分析方法。原子蒸气受到具有特征波长的光源照射后,其中一些自由原子被激发跃迁到较高能态,然后活回到某一较低能态(常常是基态)而发射出的特征光谱叫做原子荧光。各种元素都有其特定的原子荧光光谱,根据原子荧光强度的高低可测得试样中待测元素的含量,这就是原子荧光光谱仪分析(AFS)。

根据Beer-Lambert’s Law和泰勒级数展开,可得:在实验条件固定,原子化效率固定时,原子荧光强度If 和低浓度的试样的浓度C成正比。即:
If=αC (α为常数)
HG-AFS是基于以下反应将分析元素转化为室温下的气态氢化物:
NaBH4 + 3H2O + HCl == H3BO3 + NaCl + 8H+
(2+n)H+ + Em+ == EHn + H2
式中的Em+ 是指可以形成氢化物元素的离子,如铅、砷、锑、铋、硒、碲、锡、锗等,另外汞可以形成气态原子汞,镉和锌可生成气态组分,均可以用本方法分析。生成的氢化物被引入特殊设计的石英炉中,在此被原子化,然后受光源激发产生原子荧光。


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